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L.A.R.C.R.O.A. >> Etudes technologiques >> StratigraphieAnalyse élélementaire, XRF
Spectrométrie de fluorescence X (XRF)La spectrométrie XRF portable est une technique « non-destructive » (aucun prélèvement n’est effectué sur l’œuvre) qui permet d’obtenir la composition élémentaire du matériel étudié. Appliquée aux alliages métalliques, la SFX permet de déterminer quantitativement la nature des éléments chimiques présents majoritairement, minoritairement et sous forme de « traces » (ex : Cu, Sn, Pb pour un alliage de bronze).
Le spectromètre XFR portable est transportable sur les chantiers. Il permet d'analyser in-situ la composition des peintures murales, des stucs, des dorures et de touts les éléments d'un décor monumental. Le spectromètre XRF utilisé au LARCROA est un NITON GOLDD (détecteur SDD -silicon drift detector- Ag Tube, 15-50 kv, 40 µA). Cet instrument dispose d’une camera intégrée permettant de visualiser l’aire analysée.
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