Spectrométrie de fluorescence X-SFX

Spectrométrie de fluorescence X-SFX

La spectroscopie de fluorescence X (SFX) est une méthode d’analyse élémentaire permettant d’identifier et d’évaluer la concentration des éléments chimiques constitutifs des matériaux. Elle est adaptée pour l’identification des composés minéraux des peintures, enduits, céramiques, des métaux et leurs alliages. La spectrométrie de fluorescence X est une technique qui repose sur la mesure des réémission de radiations X par les différents éléments, suite à leur excitation provoquée par un rayonnement X. Les résultats sont obtenus sous la forme d’un spectre et d’une liste des éléments.

Dans le cas des peintures ou la structure est complexe, les informations recueillies concernent un ensemble de couches pouvant aller, selon la longueur de pénétration du rayonnement, des couches supérieures à la préparation, Le spectromètre SFX utilisé par le LARCROA est un NITON GOLDD XL3T portable (détecteur SDD) équipé d’une caméra intégrée. Il permet l’étude des objets in situ ou en laboratoire. L’analyse peut être faite sur de minuscules particules de peinture prélevées ou sur des zones colorées (méthode non destructive).

Pour chaque prélèvement ou zone de couleur la fiche d’analyse se présente sous cette forme.

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